一、背景

       量子點(diǎn)的熒光波長與量子產(chǎn)率高度依賴其尺寸與結(jié)構(gòu)，需通過激發(fā)/發(fā)射光譜、量子效率等參數(shù)精準(zhǔn)表征。鈣鈦礦、OLED等新型發(fā)光材料的光致發(fā)光（PL）和電致發(fā)光（EL）特性亦需高靈敏度檢測。?傳統(tǒng)光譜儀體積大、成本高，難以滿足實(shí)驗(yàn)室快速篩選、工業(yè)在線監(jiān)測及敏感樣品（如易氧化量子點(diǎn)）的無損檢測需求。

二、應(yīng)用概述

       微型光譜儀通過?無損、快速、高精度?的光譜采集能力，為鈣鈦礦量子點(diǎn)的發(fā)光機(jī)理研究、穩(wěn)定性優(yōu)化及器件集成提供了關(guān)鍵技術(shù)支撐。其微型化設(shè)計(jì)進(jìn)一步推動該技術(shù)向工業(yè)在線檢測、可穿戴設(shè)備等新興領(lǐng)域滲透，成為鈣鈦礦材料研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中的核心分析工具。

圖1：鈣鈦礦量子點(diǎn)

       量子效率測試系統(tǒng)EQY分為光致發(fā)光PL和電致發(fā)光EL兩部分。

       光致發(fā)光PL系統(tǒng)針對手套箱做了易用化的設(shè)計(jì),采用升降臺承載樣品防止手持造成灑落，在保證操作方便的同時(shí)，保證了每次安裝的位置都相同，降低了人為操作的誤差，提高了整體測試過程中的結(jié)果可靠度。含激發(fā)光濾光片插槽，根據(jù)激發(fā)光波長搭配濾光片，防止激發(fā)光和樣品發(fā)光重合對結(jié)果的影響。

       電致發(fā)光EL系統(tǒng)共有兩種配置，分別適配不同的樣品形貌，器件亮度和測試需求。搭配源表和軟件，可以對器件進(jìn)行更精確的四點(diǎn)法測量。

圖2：EQY量子效率測試系統(tǒng)實(shí)物

圖3：光致發(fā)光PL測試光譜

圖4：電致發(fā)光EL測試光譜

三、實(shí)驗(yàn)裝置

       典型配置如下：

四、結(jié)語

       光致發(fā)光測試模塊可以和電致發(fā)光模塊共用部分器件，配合組成一套完整的測試系統(tǒng)，應(yīng)對無論是OLED，QLED，PeLED發(fā)光器件，在器件制備的全流程中進(jìn)行器件測試，同時(shí)測試系統(tǒng)經(jīng)過可溯源的光源進(jìn)行定標(biāo)，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的絕對量子產(chǎn)率，色度，亮度和光譜測量。